Fausto Fantini: шукати на сайті Z-Library

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів

Найбільша колекція наукових статей у сіті. 70,000,000+ безкоштовних статей.

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024

Z-Library - одна з найбільших онлайн-бібліотек у світі, в якій зберігається більше 17,000,000 книг та 84,837,000 статей. Ми намагаємось зробити літературу доступною кожному. Сьогодні (15 вересня 2024) ми відкриваємо додатковий збір пожертвувань на підтримку та розвиток проекту.

Також БЕЗЛІМТНІ завантаження (протягом 31 дня після завершення пожертвування) доступні для ВСІХ користувачів, які підтримають проект в період збору коштів до 1 жовтня 2024.

Про збір коштів Детальніше

Підтримати

Книги
Статті (24)
Найпопулярніші
Перелік
- Перелік
- Таблиця

1

Reliability problems with VLSI

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

1984

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.72 MB

english, 1984

2

Reliability of compound semiconductor devices

Fausto Fantini, Fabrizio Magistrali

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

1992

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.13 MB

english, 1992

3

Thermal stability of AlNi gate AlGaAsGaAs HEMT's

Ilaria de Munari, Fausto Fantini, Paolo Conti

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

1995

Мова:

english

Файл:

PDF, 302 KB

english, 1995

4

Experimental and simulated dc degradation of GaN HEMTs by means of gate-drain and gate-source reverse bias stress

Valerio Di Lecce, Michele Esposto, Matteo Bonaiuti, Gaudenzio Meneghesso, Enrico Zanoni, Fausto Fantini, Alessandro Chini

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.25 MB

english, 2010

5

Guest Editorial

Fausto Fantini, J.J Liou, Mitsuo Fukuda

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

1999

Мова:

english

Файл:

PDF, 49 KB

english, 1999

6

A study of hot-electron degradation effects in pseudomorphic HEMTs

Paolo Cova, Roberto Menozzi, Fausto Fantini, Maura Pavesi, Gaudenzio Meneghesso

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

1997

Мова:

english

Файл:

PDF, 294 KB

english, 1997

7

Metal–GaAs interaction and contact degradation in microwave MESFETs

Enrico Zanoni, Alessandro Callegari, Claudio Canali, Fausto Fantini, Hans L. Hartnagel, Fabrizio Magistrali, Alessandro Paccagnella, Massimo Vanzi

Журнал:

Quality and Reliability Engineering International

Рік:

1990

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.85 MB

english, 1990

8

Design and simulation of a test pattern for three-dimensional latch-up analysis

Ilaria De Munari, Roberto Menozzi, Fausto Fantini

Журнал:

Microelectronics Journal

Рік:

1993

Мова:

english

Файл:

PDF, 1001 KB

english, 1993

9

Editorial

Fausto Fantini, Massimo Vanzi

Журнал:

Microelectronics Reliability

Рік:

2002

Мова:

english

Файл:

PDF, 24 KB

english, 2002

10

An Investigation of the Electrical Degradation of GaN High-Electron-Mobility Transistors by Numerical Simulations of DC Characteristics and Scattering Parameters

Valerio Di Lecce, Michele Esposto, Matteo Bonaiuti, Fausto Fantini, Gaudenzio Meneghesso, Enrico Zanoni, Alessandro Chini

Журнал:

Journal of Electronic Materials

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 437 KB

english, 2011

11

VLSI reliability: Contributions from a three year national research program

Giovanni Soncini, Claudio Canali, E. Zanoni, Francrsco Cors, Alessandro Diligenti, Fausto Fantini, Vito A. Monaco, Guido Masetti, Carlo Morandi

Журнал:

Transactions on Emerging Telecommunications Technologies

Рік:

1990

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.27 MB

english, 1990

12

Foreword

Emiliano Pollino, Fausto Fantini

Журнал:

Quality and Reliability Engineering International

Рік:

1991

Мова:

english

Файл:

PDF, 101 KB

english, 1991

13

Very high temperature test of InP-based laser diodes

Monica Tesauri, Giovanni Chiorboli, Paolo Cova, Fausto Fantini, Fabrizio Magistrali, Danila Sala

Журнал:

Quality and Reliability Engineering International

Рік:

1993

Мова:

english

Файл:

PDF, 453 KB

english, 1993

14

On the Astm electromigration test structure applied to Al–1%Si/TiN/Ti bamboo metal lines

Ilaria de Munari, Massimo Vanzi, Andrea Scorzoni, Fausto Fantini

Журнал:

Quality and Reliability Engineering International

Рік:

1995

Мова:

english

Файл:

PDF, 674 KB

english, 1995

15

Life tests and field results of GaAs FETs

Pietro Brambilla, Fausto Fantini, Fabrizio Magistrali, Marco Sangalli

Журнал:

annals of telecommunications - annales des télécommunications

Рік:

1990

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.44 MB

english, 1990

16

Laparoscopic cholecystectomy and intraoperative endoscopic sphincterotomy in the treatment of cholecysto-choledocholithiasis

Nicola Basso, Gennaro Pizzuto, Desdemona Surgo, Alberto Materia, Gianfranco Silecchia, Aldo Fantini, Fausto Fiocca, Paolo Trentino

Журнал:

Gastrointestinal Endoscopy

Рік:

1999

Мова:

english

Файл:

PDF, 24 KB

english, 1999

17

Electromigration in thin-film interconnection lines: models, methods and results

Scorzoni, Andrea, Neri, Bruno, Caprile, Candida, Fantini, Fausto

Журнал:

Materials Science Reports

Рік:

1991

Мова:

english

Файл:

PDF, 24.09 MB

english, 1991

18

[IEEE ESSDERC 2010 - 40th European Solid State Device Research Conference - Sevilla, Spain (2010.09.14-2010.09.16)] 2010 Proceedings of the European Solid State Device Research Conference - Study of GaN HEMTs electrical degradation by means of numerical simulations

Di Lecce, Valerio, Esposto, Michele, Bonaiuti, Matteo, Fantini, Fausto, Chini, Alessandro

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.24 MB

english, 2010

19

[IEEE 2009 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) - Baltimore, MD, USA (2009.12.7-2009.12.9)] 2009 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) - Correlation between DC and rf degradation due to deep levels in AlGaN/GaN HEMTs

Chini, Alessandro, Fantini, Fausto, Di Lecce, Valerio, Esposto, Michele, Stocco, Antonio, Ronchi, Nico, Zanon, Franco, Meneghesso, Gaudenzio, Zanoni, Enrico

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.28 MB

english, 2009

20

[IEEE 19th International Reliability Physics Symposium - Las Vegas, NV, USA (1981.04.7-1981.04.9)] 19th International Reliability Physics Symposium - "Reliability of PtSi-Ti/W-Al Metallization System used in Bipolar Logics"

Canali, Claudio, Fantini, Fausto, Queirolo, Giuseppe, Zanoni, Enrico

Рік:

1981

Мова:

english

Файл:

PDF, 7.06 MB

english, 1981

21

Unfolding similarity in interphysician networks: the impact of institutional and professional homophily

Mascia, Daniele, Di Vincenzo, Fausto, Iacopino, Valentina, Fantini, Maria, Cicchetti, Americo

Журнал:

BMC Health Services Research

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 397 KB

english, 2015

22

SPIE Proceedings [SPIE SC - DL tentative - Santa Clara, CA (Thursday 8 February 1990)] Charge-Coupled Devices and Solid State Optical Sensors - Retinalike space variant CCD sensor

Kreider, Gregory, Van der Spiegel, Jan, Born, Ivan, Claeys, Cor L., Debusschere, Ingrid, Sandini, Giulio, Dario, Paolo, Fantini, Fausto, Blouke, Morley M.

Рік:

1990

Мова:

english

Файл:

PDF, 314 KB

english, 1990

23

Experimental and Numerical Analysis of Hole Emission Process From Carbon-Related Traps in GaN Buffer Layers

Chini, Alessandro, Meneghesso, Gaudenzio, Meneghini, Matteo, Fantini, Fausto, Verzellesi, Giovanni, Patti, Alfonso, Iucolano, Ferdinando

Журнал:

IEEE Transactions on Electron Devices

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.44 MB

english, 2016

24

[IEEE 2016 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) - Pasadena, CA, USA (2016.4.17-2016.4.21)] 2016 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) - Correlation between dynamic Rdsou transients and Carbon related buffer traps in AlGaN/GaN HEMTs

Iucolano, Ferdinando, Parisi, Antonino, Reina, Santo, Patti, Alfonso, Coffa, Salvatore, Meneghesso, Gaudenzio, Verzellesi, Giovanni, Fantini, Fausto, Chini, Alessandro

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 645 KB

english, 2016